原子力顯微鏡是用于非常小的物體的表面特征映射和測量儀器
像是是一個人的頭發絲的截面（約80微米的直徑0.25納米（nm）或2.5埃直徑）。

原子力顯微鏡的基本原理

偏轉的幅度是從斜探頭年底角度反映了在激光測量。繪制對樣品表面上的尖端位置的激光偏轉創建一個表面的丘陵和山谷的“地圖”。這提供了顯微鏡的高分辨率圖像

原子力顯微鏡有兩種掃描模式,倒置生物顯微鏡。在接觸模式下，原子力顯微鏡的探針接觸樣品的表面。由于該儀器在表面的尖端拖動，檢測設備措施懸臂的垂直偏轉。在非接觸模式下，原子力顯微鏡的探針不接觸樣品表面，它的措施針尖與表面之間的引力，繪制樣品表面。

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SEM只可以提供一個二維圖像或投影